產地類別 | 進口 | 電動機功率 | 2kW |
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外形尺寸 | 1mm | 應用領域 | 化工,建材/家具,電子/電池,電氣,綜合 |
重量 | 1kg | 交流電流測量(真有效值) | 1 μA 至 10 A |
交流電壓頻率范圍 | 20Hz至100kHz |
ADCMT愛德萬 直流數字電壓靜電計 8252
ADCMT愛德萬 直流數字電壓靜電計 8252?
數字靜電計
8252
直流電壓測量:3 V 至 200 V 范圍,最小分辨率 10 μV
直流電流測量:30 pA 至 30 mA 范圍,最小分辨率 1 fA
電阻測量:3 kΩ至200 GΩ范圍,最小分辨率10 mΩ
電荷測量:1 nC 至 10 μC 范圍,最小分辨率 1 fC
±200V電壓發生功能
施加電壓電阻測量可測量2×10 17 Ω
多種掃描測量功能使其成為評估各種設備的理想選擇
功能應用規格 /價格外觀 標準配件配件下載
8252 是一款高性能 5? 位數字靜電計,具有 ±200 V 電壓源功能。它可以測量 1 fA 電流、±210 V 范圍內 2×1014 Ω高輸入阻抗電壓 、210 GΩ 電阻和 1 fC 電荷。
此外,其具備多種掃描功能的電壓生成功能,非常適合用于評估各種器件和材料。電流測量方面,采用積分電流電壓 (ICV) 技術,可有效抵抗感應噪聲,并實現高速測量。
此外,VSRM(電壓施加電阻測量)功能允許測量 2 x 10 17 Ω 的絕緣電阻。
特征
電壓產生和各種掃描功能
8252 內置 ±200 V 可編程電源。提供兩種電源模式:常規模式(與測量異步運行)和掃描模式(與測量同步變化)。掃描模式提供三種:固定、線性和隨機,您可以根據應用選擇最合適的掃描測量。
固定掃描測量
:精確充電時間后測量絕緣電阻。
偏置值:掃描開始前用戶指定的值。Td
:測量延遲
線性掃描測量
用于測量二極管和場效應晶體管(FET)等半導體的 I-V 特性
隨機掃描測量
用于與隨機電壓生成同步的高速測量
可以在噪聲影響最小的情況下進行測量
傳統靜電計具有較高的輸入阻抗,可以測量極小的電流和高電阻,但容易受到外部感應噪聲的影響。8252 采用以下功能,可最大限度地降低噪聲的影響。
低噪聲雙同軸(三軸)輸入電纜,防止因電纜振動引起的噪聲
采用抗噪聲的積分方法
- 與傳統反饋方法相比,具有更高抗噪聲能力的積分電流-電壓轉換器
- 高動態范圍 AD 轉換器,可實現高噪聲抑制率(噪聲為滿量程的 2 至 3 倍)
- 積分時間可在 1 ms 至 1 s 之間變化
使用移動平均消除噪聲的平滑函數
Driving Guard 功能可實現高阻抗信號源電壓和電阻的高速測量
在電壓和電阻測量中,當信號源電阻或待測電阻較大(100 MΩ 或更大)時,由于電纜電容以及 Hi 和 Lo 端子之間的雜散電容,響應速度會變慢。例如,如果信號源電阻為 1000 MΩ,電纜電容為 100 pF,則由于時間常數 (t=100 ms),達到最終值 ±0.1% 以內的響應時間約為 700 ms。為了改善此響應速度,8252 采用了驅動保護方法,該方法使用與輸入電壓相同的電位驅動輸入電纜的內屏蔽,使從 Lo 端子看到的阻抗看起來為零。此外,通過電纜和連接器從測量輸入端子流到 Lo 端子的漏電流也會減少,因此視在絕緣電阻也會增加。使用此功能可使響應速度提高 10 倍以上。
帶驅動保護器的測量:
使用驅動保護器時,輸入電纜芯線與內屏蔽層處于同一電位,因此輸入電纜的電容CX1可忽略不計。此外,由于內屏蔽層和外屏蔽層之間的阻抗較低,因此CX2也可忽略不計。
接觸檢查功能可檢測接觸不良
接觸檢查原理圖
8252 可以使用接觸檢查功能檢測測量電纜與 DUT 之間、測量電極之間以及夾具與 DUT 之間的接觸不良。該接觸檢查功能會在常規模式下每次測量時判斷測量輸入端子與 LO 端子或電壓源端子之間的電容,并在 DCI 功能 30 pA 至 300 μA 范圍內的掃描模式下開始掃描時判斷測量輸入端子與 LO 端子或電壓源端子之間的電容。
處理器接口和 PASS/FAIL 判斷功能非常適合生產線使用
8252標配GPIB接口、TRIGGER、COMPLETE、INTERLOCK單線信號,以及用于連接自動化設備的處理器接口。此外,還具備比較運算功能,通過與接觸檢查功能配合使用,可以輸出反映比較判斷結果和接觸檢查結果的PASS/FAIL信號。這可在電容器漏液測試、絕緣電阻測試等中實現高速自動選擇。
應用
用于各種半導體的評估和自動檢查
8252除了具備1 fA電流測量和10 μV電壓測量功能外,還配備了能夠進行VSIM(電壓源電流測量)/ISVM(電流源電壓測量)的可編程電源,通過組合這些功能,可以進行各種半導體評估測試。此外,它還標配GPIB、處理程序IF和各種單線信號,非常適合作為評估系統的組成部分。
?二極管和場效應晶體管(FET)的I-V特性測試
高分辨率 8252 非常適合測量幾 pA 或更低電流下的 I-V 特性,例如光電二極管 (PD) 的暗電流特性和 MOSFET 的柵極電流。線性掃描功能可生成最多 5000 個步長并存儲測量數據,自動量程測量功能可設置測量范圍的移動范圍,自動量程延遲功能可設置每個量程的延遲時間,從而實現穩
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