方糖硬度測試儀/糖類硬度檢測儀/方糖硬度計/方糖硬度儀 DP-5011

方糖硬度測試儀特點：

1、采用芯片控制，測力傳感器，精度高。

2、采用電機，滾珠絲桿傳動，儀器傳動。

3、大觸摸屏中文顯示，自動完成測試。操作方便，具有測試數據統計處理功能,微型打印機輸出。

4、探頭和配件。

技術參數：

測量范圍：（0~200）N 或（200）kgf

分辨力：0.01N

示值準確度：<±1%，

試驗速度：1mm/s（0-1.3）mm/s 可調

電壓：220V 50Hz

大電流鐵芯測試儀/大電流鐵芯檢測儀   型號：DP-HT36

   本鐵芯測試儀用于大尺寸的坡莫合金,微晶合金和需要大電流激勵的冷軋硅鋼鐵芯的伏安特性的測量,如果被測量鐵芯的平均磁路長度L和有效截面積S已知,還可按公式計算出鐵芯的幅值磁化強度Hm和幅值磁感應強度Bm,從而求出幅值磁導率μa．
  儀器前面板上有二塊數字面板表,可同時顯示被測鐵芯的激磁電流I和感應電壓U,結果直觀,適合上述各種鐵芯生產單位快速檢測批量鐵芯的需要,是鐵芯質量的有力工具.

大電流鐵芯測試儀/大電流鐵芯檢測儀  技術參數：
 n工作頻率：50Hz或60Hz
n 激磁電流： 輸出功率 50VA；輸出電流10A,連續可調.
n 激磁電流測量：二個量程:   1.999A,10.00A
 測量準確度: ±2%   ±1個字

感應電壓測量：三個量程: 19.99mV, 199.9mV, 1.999V
  測量準確度: ±2%   ±1個字
n 儀器功率源：單相50Hz或60Hz,AC220V±2%；消耗功率 100VA
n 儀器尺寸：400′122′280mm
n 重量:10Kg
n 工作環境:溫度　23±10℃;濕度:＜90％

新鐵芯測試儀/新鐵芯檢測儀/新鐵芯測定儀   型號：DP-HT35A

本儀器適用于各種閉合（如環型）軟磁鐵芯伏安特性的測量。測量頻率為50/60Hz。初級磁化電流0-200.0mA連續可調。次級感應電壓測量分三個量程：0 - 200.0mV、0 - 2.000mV和0 - 20.00mV。用本儀器進行測量時，初、次級均為單匝。測試工裝利用話筒插頭穿過被測閉合鐵芯的簡便操作，即可完成快速檢驗工作。
 本儀器是在DP-HT35的基礎進行更新改進，電流電壓可同時顯示。單機控制，產品測定值可靠有效，適合批量生產快速測量
技術參數：

 n初級磁化電流范圍：0-200.0mA。
n 初級磁化電流準確度：+1.5%讀數值+1.5%滿度值。
n 次級感應電壓測量范圍：0 – 200.0 mV（分辨率為0.1mV）;0 – 2.000 mV（分辨率為0.001mV）;0 – 20.00 mV（分辨率為0.01mV）。
n 次級感應電壓測量準確度：  +1.5%讀數值+1.5%滿度值。
n 電源：單相交流220V，50Hz。
n 尺寸：320′240′140mm
     重量：4kg

四探針金屬/半導體電阻率測量儀   型號：DP-SB100A/21A

DP-SB100A/21A是DP-SB100A/21的升級版，其為用戶提供了使用DP-SB100A/21進行四探針測試及實驗的配套軟件，可運行于PC機上，能兼容運行在Winxp和Win7系統中，用于自動獲取實驗臺的實驗數據，并根據條件生成曲線和報表，輔助實驗人員自動完成實驗，直觀的分析數據，獲得實驗結論，保存實驗數據。本產品的電阻測量范圍可達10-5—106Ω。
該測量儀由DP-SB118/21型電壓電流源，DP-SB120/2四探針樣品測試平臺及1臺電腦（選購），并附有配套的軟件系統等組成。產品的硬件詳情可參見DP-SB100A/21及相應產品的介紹 。
該產品的軟件系統為用戶提供參數設置、實驗流程、實驗方式、數據分析、曲線報表，并在后臺數據庫中進行長期保存，實驗人員可以查詢以前的任何一次實驗的結果、所有的曲線和報表都可提供打印功能。
DP-SB118/21型直流電壓電流源 （帶RS232C接口，詳見該產品使用說明書）
l  直流電壓源：輸出電壓范圍  0~50V  分20mV、200mV、2V、20V、50V五檔，每檔輸出電壓可連續調節，分辨力為1μV，基本誤為0.05%RD±0.02%FS。
l  數字電壓表（4?LED）利用電壓源部分“取樣”端可對被測電壓進行測試，測量量程為20mV、200mV、2V、20V、50V（200V），分辨力為可達1μV，基本誤：0.05%RD±0.02%FS。
l  直流電流源：輸出電流范圍  0~200mA  分20μA、200μA、2mA、20mA、200mA五檔，每檔輸出電流可連續調節，分辨力為1nA，基本誤為0.03%。
l  儀器后面板配有一個為PC/RS232C接口連接至PC機上，可利用PC機上的“終端”獲得儀器的測量數據。
DP-SB120/2四探針樣品平臺（詳見該產品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導體/半導體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。

四探針金屬/半導體電阻率測量儀   型號：DP-SB100A/20A

DP-SB100A/20A是DP-SB100A/20的升級版，其為用戶提供了使用DP-SB100A/20進行四探針測試及實驗的配套軟件，可運行于PC機上，能兼容運行在Winxp和Win7系統中，用于自動獲取實驗臺的實驗數據，并根據條件生成曲線和報表，輔助實驗人員自動完成實驗，直觀的分析數據，獲得實驗結論，保存實驗數據。本產品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。
該測量儀由DP-SB118/20型電壓電流源，DP-PZ158A型直流數字電壓表，DP-SB120/2四探針樣品測試平臺及1臺電腦（選購），并附有配套的軟件系統等組成。產品的硬件詳情可參見DP-SB100A/20及相應產品的介紹 。
該產品的軟件系統為用戶提供參數設置、實驗流程、實驗方式、數據分析、曲線報表，并在后臺數據庫中進行長期保存，實驗人員可以查詢以前的任何一次實驗的結果、所有的曲線和報表都可提供打印功能。
DP-SB118/20型直流電壓電流源 （帶RS232C接口，詳見該產品使用說明書）
l  直流電壓源：輸出電壓范圍  0~50V  分20mV、200mV、2V、20V、50V五檔，每檔輸出電壓可連續調節，分辨力為1μV，基本誤為0.1%。
l  直流電流源：輸出電流范圍  0~200mA  分20μA、200μA、2mA、20mA、200mA五檔，每檔輸出電流可連續調節，分辨力為1nA，基本誤為0.03%。
l  儀器后面板配有二個RS232C接口,，一個為DP-PZ158A/RS232C接口連接至DP-PZ158A，另一個為PC/RS232C接口連接至PC機上，可利用PC機上的“終端”獲得儀器的測量數據。
DP-PZ158A型數字電壓表（詳見該產品使用說明書）
可測量0~1000V直流電壓  具有200mV、2V、20V、200V、1000V五檔量程，高分辨力為0.1μV，基本誤為0.003%。
DP-SB120/2四探針樣品平臺（詳見該產品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導體/半導體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。