在當今工業(yè)生產(chǎn)中對納米級表面結構的了解日益重要。這些應用包含了從內(nèi)燃機磨損到新型潤滑涂層和防腐蝕保護層，以及現(xiàn)代車用噴漆，從半導體工業(yè)到醫(yī)用技術。傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法處理上述的長度空間。但同時可以看到，對表面、涂層和功能材料表面盡可能全面地就性能進行描述日益成為工業(yè)界和科研機構的迫切需求，例如在局部極小的尺寸內(nèi)對化學反應過程，腐蝕和磨損進行觀察等等。原子力顯微鏡作為極其靈活的圖像檢測方法尤其適合這些應用，它的測量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結構。而這樣大的測量范圍只需使用同一臺設備。隨著BMT多用掃描儀AFM 3000的研制成功，市場上終于出現(xiàn)了一臺掃描原子力顯微鏡，它的突出特點是模塊化結構、高度靈活性而且操作極其簡便。它*的測量模塊運用了化學對比度成像（Chemical Contrast Imaging （CCI-AFM） ，這種新技術可以檢測到表面極其微量的化學變化，這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學反應實際發(fā)生的位置，這些反應通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個采集點上同時采集圖像信息：從采樣點表面形貌到摩擦，磨損和接觸剛性，一直到化學對比度。

●  操作極其簡便，用戶控制，模塊化構造

●  多用掃描 測量頭，就*的穩(wěn)定性作了優(yōu)化

●  多測量模式選擇：接觸模式，非接觸模式，震蕩接觸模式，力調制顯微鏡，摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡，力譜儀，相位對比度。使用同一個測量頭可達到的掃描范圍從納米級到面積為 200 µm x 200µm

●  包括化學對比度成像 （CCI-AFM） 模式

●  包括保護氣體選項

●  可直接在樣品實地的溫度和濕度條件下測量

●  包括可在液體中測量的工作方式

●  極有用途的附加模塊包括：納米電鍍（GalvanoScan）、納米摩擦和磨損檢測 （TriboScan） 以及腐蝕 （CorroScan） 和納米構造 （LithoScan） 
●  可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊，根據(jù)特殊要求可提供應用實例