TX-AISIDA 特性阻抗
- 公司名稱 昆山市正業電子有限公司
- 品牌
- 型號 TX-AISIDA
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2015/8/2 7:18:09
- 訪問次數 387
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!
金相分析系統、切片研磨機、自動取樣機、離子污染測試儀、剝離強度測試儀、UV激光切割機、外觀檢查機、X光檢查機、孔徑孔數檢查機、特性阻抗測試儀、鋰離子電池X光檢測儀系列、自動外觀檢查儀和V槽殘厚測量儀等40余種適用于硬/撓性板的測試儀器裝備及電子板輔料。
特性阻抗|特性阻抗測試儀用途:
測試系統是采用時域反射技術設計的,能夠批量化、自動化、快速、準確測試PCB跡線的,并提供測試波形分析、統計數據分析、自動記錄測試數據、自動出具檢測報告并打印等功能。適用于電路板制造廠商的研發、設計、生產及品管單位。為高頻線路板測試提供了一套快速、準確、標準和經濟的解決方案。
|測試儀特征:
1、批量化、自動化測試,操作簡單、測試快捷,適合PCB工廠快速測試。
2、Windows操作環境,友好的人機界面,自動出具測試結果。
3、提供單端和差分阻抗測試。
4、支持2通道、4通道及8通道測試。
5、快速定制測試任務及批量化、自動化測試功能。
6、集成測試文件編輯器,快速設置測試參數。
7、自動記錄測試數據,生成報表并保存在磁盤上。
8、顯示測試波形、統計數據分析及測試結果。
9、打印測試報表、波形及測試結果。
10、符合IPC-TM-650和IPC2141標準。
|測試儀技術參數:
項目 | 規格 |
控制阻抗測試范圍 | 20-150Ω |
測量精度 | 50Ω±1% |
測量長度 | zui大2m,zui小0.09m |
水平顯示分辨率 | 0.2mm |
垂直顯示分辨率 | 0.05Ω |
測試方法 | 時域反射法(TDR) |