島津企業管理（中國）有限公司
島津電子探針測試界面高溫超導材料的方法研究
檢測樣品：超導材料
檢測項目：方法研究
方案概述：本文以多層復合膜Sb-BaTiO,界面高溫超導材料為例，梳理了測試流程。對于干擾譜線的確認和扣減問題進行了方法說明，探討了基體修正ZAF方法的選擇，以期獲得更為理想的測試結果。
利用薄膜生長法獲得的界面高溫超導材料是超導領域的一個重要研究方向。由于電子探針定量測試基體修正模型中首先假設電子束與試樣交互作用區域的均質性，這種界面高溫超導材料的層狀膜結構給電子探針的定量測試帶來一定的問題。本文以多層復合膜Sb-BaTiO,界面高溫超導材料為例，梳理了測試流程。對于干擾譜線的確認和扣減問題進行了方法說明，探討了基體修正ZAF方法的選擇，以期獲得更為理想的測試結果。
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