應用于金屬加工的日立產品

高性能、可靠的金屬分析是鑄造廠或金屬加工廠的基本程序，當今的金屬分析儀可在緊湊、經濟高效的儀器中實現這一性能。

非常重要的是，必須在熔體中檢測低檢出限的雜質元素和痕量元素。光學發射光譜法（OES）是用于黑色金屬和有色金屬熔體分析的既定方法。而其他分析技術（例如無損XRF和超快速激光誘導擊穿技術）在原材料和成品的材料驗證和材料可靠性鑒定中占有一席之地。

日立分析儀旨在滿足當今金屬生產整個過程中高性能的挑戰。從以價格優勢提供卓越分析性能的突破性OE系列，到當今市場上真正的便攜式OES儀器PMI-MASTER Smart，日立產品組合中的所有儀器都注重結果的耐用性、可用性和可靠性。該系列產品采用堅固耐用的外殼封裝，適合苛刻的鑄造或金屬生產環境，可將先進的分析技術帶到需要的地方。高度直觀的軟件以及完善的服務包可確保您始終從儀器中獲得可觀收益，并盡量減少停機時間。

固定式OES

我們的固定式OES直讀光譜儀系列可提供高準確性和精密度。 分析所有主要合金元素，并確定金屬中雜質元素和痕量元素，例如鋼中的氮。 我們的儀器還可以覆蓋罕見的應用，例如銅中的氧氣和鈦中的氮氣和氫氣。

移動OES – MASTER系列

一系列便攜式和移動式金屬分析儀可幫助您防止進出物料的牌號混淆，進行物料驗證和質量控制。 我們的移動式火花直讀光譜儀可在低檢出限下提供關鍵合金元素的全部化學成分，包括低合金和不銹鋼中的碳，磷，硫，硼，砷和錫，以及雙相鋼中的氮。

手持式XRF – X-MET8000系列

X-MET8000系列提供無損分析和準確的牌號識別。 非常適合分析輕元素（Mg至S），以快速測試大多數商用合金，包括鋁合金，硅鋁青銅。 它提供了低檢出限，可實現準確的牌號分揀（例如303-304、6061-6063），并在幾秒鐘內獲得實驗室質量結果。

日期：2025年7月9-11日
地點：上海新國際博覽中心
日立展位號：N4館4M05