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為什么選擇EA8000A X射線分析儀？
創新性地協同使用X射線透射成像與先進的X射線熒光光譜，使得EA8000A的掃描速度比其他方法快100倍。例如，僅需30分鐘便可在200 x 250mm區域內對尺寸為20µm的金屬顆粒進行檢測和成分分析。
EA8000A可通過X射線投射圖像檢測金屬異物，隨后使用XRF技術自動掃描這些區域。
日立采用的成像技術可確保在整個樣品體積內檢測出金屬異物。先進的XRF毛細管光學機構提供高度聚焦和強X射線光束，可分析電極板及有機薄膜表面下的金屬異物。
EA8000A具有多功能性、高速度和自動化特性，可支持大批量生產。其能快速完成掃描，因此非常適合原材料分析、過程控制和故障分析，確保鋰離子電池生產的各方面都符合高質量標準。
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