玻璃翹曲度測量儀 參考價(jià)：面議
這款玻璃翹曲度測量儀是大尺寸玻璃彎曲度測量儀和玻璃彎曲度測試儀,廣泛用于翹曲度測量,彎曲度測量,表面形貌測量和鍍膜測量等。,玻璃彎曲度測量儀,玻璃彎曲度測試儀由...
晶圓翹曲度測量儀 參考價(jià)：面議
這款多功能晶圓翹曲度測量儀是為晶圓生產(chǎn)線上自動(dòng)晶圓翹曲度測量設(shè)計(jì)的大型自動(dòng)晶圓測量儀器,具有晶圓厚度測量,晶圓翹曲度測量,晶圓BOW/WARP測量,晶圓wave...
單晶多晶硅片壽命測試儀 參考價(jià)：面議
單晶多晶硅片壽命測試儀是專用為晶圓品質(zhì)檢驗(yàn),測量少子壽命,測量光電導(dǎo)率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測試儀器
晶圓少子壽命測量儀 參考價(jià)：面議
這款晶圓少子壽命測量儀是專業(yè)為晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測量設(shè)計(jì)的少子壽命測試儀器。
單點(diǎn)少子壽命測量儀 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)少子壽命測量儀系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測量儀器,對不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征。
晶圓晶錠壽命測定儀 參考價(jià)：面議
晶圓晶錠壽命測定儀是為晶圓晶錠測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計(jì)的晶圓晶錠少子壽命測試儀器。采用非接觸式檢測和無損成像（μPCD /...
溫度型少子壽命測試儀 參考價(jià)：面議
這款溫度型少子壽命測試儀是為25℃~200℃范圍內(nèi)晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測量設(shè)計(jì)的溫度決定型少子壽命測定儀器。
光學(xué)鍍膜檢測儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)鍍膜檢測儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無人值守薄膜測量。測量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測厚儀,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
聚合物薄膜測厚儀用于測量polymer films(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
進(jìn)口光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...
磁場屏蔽消磁儀 參考價(jià)：面議
這款磁場屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應(yīng)用的單軸磁場消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當(dāng)磁場傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應(yīng)用。
磁場消除系統(tǒng),磁場補(bǔ)償系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
磁場消除系統(tǒng)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像MRI,...
主動(dòng)磁場屏蔽消磁系統(tǒng)ECS 參考價(jià)：面議
主動(dòng)磁場屏蔽消磁系統(tǒng) ECS是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場干擾而設(shè)計(jì)的主動(dòng)磁場屏蔽和主動(dòng)消磁裝置系統(tǒng).用于為科學(xué)儀器裝置免受磁場干擾影響的環(huán)境.
薄膜厚度均勻性測量儀 參考價(jià)：面議
這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
手持式薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
這款手持式薄膜測厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀 參考價(jià)：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n...
光學(xué)薄膜測厚儀 參考價(jià)：面議
這款光學(xué)薄膜測厚儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測量薄膜反射光譜進(jìn)測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
進(jìn)口大型晶圓探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
大型晶圓探針臺(tái)600LS是專業(yè)為300mm晶圓測試設(shè)計(jì)的大尺寸晶圓測試探針臺(tái)系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測試應(yīng)用。
磁場低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
磁場低溫探針臺(tái)采用MicroXact低溫磁探針臺(tái)技術(shù),滿足電磁鐵、超導(dǎo)磁體或電磁鐵和超導(dǎo)磁體的組合測試應(yīng)用。
進(jìn)口無氦低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
無氦低溫探針臺(tái)CPS-CF是為極低溫探針測試設(shè)計(jì)的閉循環(huán)低溫探針臺(tái)系統(tǒng),適合低溫下對器件和電路進(jìn)行探針測試。
半自動(dòng)真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)真空探針臺(tái)SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對多達(dá)100mm...
磁探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款磁探針臺(tái)可提供三維磁場控制,滿足磁性控制RF探針測試應(yīng)用.作為磁場探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)了平面磁場的任意操控,方便自旋電子器件探針測試.
進(jìn)口高溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款高溫探針臺(tái)是為高溫環(huán)境器件測試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺(tái)分析測試而設(shè)計(jì)。
閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái)是半自動(dòng)低溫真空探針臺(tái),可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測試經(jīng)驗(yàn)和器件。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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