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這款激光超聲波掃描顯微鏡采用激光超聲波可視化技術對半導體器件失效分析和無損檢測,對器件分層,空洞和裂紋尤為有效,提供高速非接觸成像和超快單點掃描模式,最高測試速度可達1000個元器件/秒.
超聲波掃描顯微鏡特色
緊湊的臺式設計
適合半導體器件失效分析和無損分析檢測
非接觸式傳感器技術，不需要液體耦合介質
高速成像模式速度高達10000個成像點/秒
單點檢測模式速度高達1000個元器件/秒
這款激光超聲波掃描顯微鏡采用激光超聲波可視化技術對半導體器件失效分析和無損檢測,對器件分層,空洞和裂紋尤為有效,提供高速非接觸成像和超快單點掃描模式,最高測試速度可達1000個元器件/秒.
超聲波掃描顯微鏡特色
緊湊的臺式設計
適合半導體器件失效分析和無損分析檢測
非接觸式傳感器技術，不需要液體耦合介質
高速成像模式速度高達10000個成像點/秒
單點檢測模式速度高達1000個元器件/秒
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