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晶圓IC檢測金相顯微鏡MX-2000T是為晶圓檢測和IC檢查設計的數字金相顯微鏡,光學放大率高達400倍，XY工作臺行程范圍大且易于移動，您可以通過目測或自動聚焦顯微鏡攝像頭快速檢查晶圓，同時只需在LCD顯示屏上查看結果即可。
通過簡單的鼠標點擊，您可以快速執行尺寸測量，并將結果捕獲到SD卡或計算機上。對于任何半導體企業和冶金實驗室來說，晶圓IC檢測金相顯微鏡MX-2000T都是不可少的檢查、記錄的顯微鏡。
晶圓IC檢測金相顯微鏡典型應用
半導體晶圓集成電路檢測顯微鏡
工業冶金分析
大功率遠距離檢測顯微鏡
晶圓IC檢測金相顯微鏡MX-2000T特點
專為晶圓IC檢查而設計
用于自動對焦顯微鏡攝像頭或具有測量功能的4K攝像頭的三目端口
易于移動的10英寸x 10英寸XY工作臺，帶有同軸旋鈕控制，移動距離為195mm x 245mm
總光學放大率40x-400x，帶10x高目鏡
4x、10x、20x、40x無限平面消色差物鏡
目鏡22毫米視場，30度角
照明：鹵素同軸反射光
可靠且價格合理
晶圓IC檢測金相顯微鏡MX-2000T規格參數
觀察頭：無補償三眼頭，傾斜30度
目鏡：超寬視場目鏡WF 10X/22mm
物鏡：無限平面消色差，4X，10X，20X，40X，（80X可選）
放大倍數：40-800X（雙目目鏡觀察）
視場：0.275mm-5.5mm（雙目目鏡觀察）
Nosepiece物鏡轉塔：四重機頭：4X/10X/20X/40X（可選80X）
聚焦系統：同軸粗、精對焦系統，距離24mm
XY位移臺尺寸：300mm x 268mm
XY位移臺尺寸行程范圍：250mm x 250mm, 10″ x 10″
照明光源：鹵素燈6V20W，亮度連續可調
濾光片：藍色，黃色，綠色和Ground 玻璃
偏振配件：偏振分析器和偏振片
| 高級平面消色差物鏡 | ||||
| 放大倍數: 4x 10x 20x 40x | 工作距離 (mm) | 數值孔徑 (N.A.) | 物鏡10X(Φ22mm) | FOV 視場(mm) |
| 4X | 25.4 | 0.1 | 40X | 5.5 |
| 10X | 11 | 0.25 | 100X | 2.2 |
| 20X | 6 | 0.4 | 200X | 1.1 |
| 40X | 3.7 | 0.6 | 400X | 0.55 |
| 80X (Optional) | 0.2 | 0.9 | 800X | 0.275 |
晶圓IC檢測金相顯微鏡檢測結果
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