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示波器的觸發功能－模擬觸發器的缺點
示波器模擬觸發器的缺點
通過分析，我們可以總結出模擬觸發器的一些不足之外，包括以下幾個方面：
觸發抖動
有以下幾個因素會影響到觸發器的穩定性。
1. 比較器輸出抖動
比較器的參考門限電平（VREF ）通常使用DAC反量化輸出，其過程受DAC精度、比較器響應速度、系統噪聲、環境溫度影響容易產生漂移（?v），這些因素將會導致比較器輸出產生抖動（?t1），如圖 2.6右所示。當然，如果硬件電路控制得好，通常影響會比較小，甚至可以忽略。
圖 2.6 比較器輸出抖動
2. 采樣與觸發通路間延時抖動
在模擬觸發器中，信號的采樣和觸發是兩個不同的物理通路，在設計時，我們認為兩個通道間的延時為零（或是一個固定的值，可以修正）；但實際上，“采樣通路”和“觸發通路”兩條不同路徑受系統線性、非線性等因素（器件、PCB板材、噪聲及環境溫度變化等）干擾，會導致信號傳輸有延時差（?dly），產生觸發抖動（?t2），如圖 2.7所示。
圖 2.7 采樣通路與觸發通路延時抖動
3. TDC的測量精度
TDC的測量精度和實現方法與器件參數一致性有關，這是觸發器的核心單元，由模擬器件組成，通常比較難控制，所以TDC的測量誤差也是影響觸發抖動的關鍵因素。
觸發靈敏度
前面我們分析比較器的時候有提到觸發靈敏度，需要通過更改比較器的反饋電阻來調節，在實際的應用中，通常調節好是固定的一個或兩個值，不可能允許用戶動態調整，因此不能很好地適應各種復雜的測試環境。
觸發間隙
在分析模擬TDC的工作原理時，我們發現觸發后系統（電容）需要一個時間恢復到初始狀態，這個時間通常和展擴后的脈沖相當略長。這在數字存儲示波器中是致命的，因為它會影響延長兩次觸發之間（增加死區時間）的間隙，這將嚴重影響波形刷新率，降低示波器的性能。
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