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SLH5-20單晶直探頭
最近更新時間：2016-1-27
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SLH5-20單晶直探頭|上海如慶電子科技有限公司現(xiàn)貨優(yōu)惠價供應SLH-25單晶直探頭
單晶體，或直探頭通常用于測量厚度和在板材，棒材，鍛件，鑄件和擠壓中的缺陷檢測。直接適用于在測試材料或對象的平面檢測。小直徑的傳感器可用于測試略呈弧形的表面。
單晶探頭概述
聲納標準型單晶直探頭如下：
高阻尼單晶直探頭 (SLH)
普通縱波檢測，分層檢測，厚度測量，金屬，玻璃，陶瓷，瓷器，復合材料。
中阻尼單晶直探頭(SLM)
常規(guī)標準探頭，用于檢測從小到大的不同材料和幾何尺寸的零件，比如：金屬、玻璃、陶瓷、復合材料。
可更換軟保護膜型單晶直探頭 (SLF)
用于接觸法檢測粗糙的、鑄造的、麻點或摩擦的表面，具有zui小的探頭磨損，可檢測鑄件、鍛件、鋼坯等。
大尺寸低頻率 (LLF)
用于接觸法檢測，探頭磨損非常小，可檢測具有粗糙、鑄造、有麻點或磨損表面的大型或高衰減性工件如：鑄件、鍛件、鋼坯。
高阻尼小尺寸單晶直探頭 (SLP)
與SLH系列探頭具有相同阻尼，但外殼尺寸很小，可進入到很難到達的區(qū)域。
通常作為搜查探頭用，可用在飛機工業(yè)、機械加工、復合材料等領域。
低阻尼單晶直探頭 (SLC)
這些縱波接觸式探頭適用于要求穿透深度比近表面分辨率更重要的應用場合，比如：棒材和鋼坯。
高祖尼單晶直探頭 (SLG)
常規(guī)探頭，用于檢測不用材料的小至大的零件，如：金屬，玻璃，陶瓷和瓷器。
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