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454次激光全譜分析技術(shù)是基于激光脈沖聚焦到被測樣品上所產(chǎn)生的物質(zhì)電離過程，電子的復(fù)合會發(fā)光，收集并研究該光譜就可以分析被測物質(zhì)的成分。 該技術(shù)zui初是由美國 Los Alamos 國家實(shí)驗(yàn)室的 David Cremers 研究小組在二十多年前發(fā)明的。從此以后，成功地被用于痕量元素的檢測和惡劣環(huán)境下的在線成分分析等應(yīng)用中。
根據(jù)所分析的元素不同， 激光全譜分析技術(shù)可以探測到 ppm 到 ppt 級的含量。而且不需要對所測樣品進(jìn)行預(yù)加工（如拋光，溶解等），可以分析固態(tài)和氣態(tài)樣品。
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