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分析雷達物位計的測量原理和注意事項
閱讀：1281 發布時間：2019-6-18
雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業頻率波段范圍內正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環境均無傷害，還具有不受介質比重的影響，不受介電常數變化的影響，不需要現場校調等優點，不論是對工業需要，還是對顧客經濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。
雷達物位計的測量原理：
調頻連續波雷達物位計在測量過程中應用了按照線性變化的高頻信號，雷達物位計的信號從天線發出，在被測量平面反射，回波被天線接收。雷達物位計信號的發出與回波接收的頻率差被用于進一步的信號處理，頻率差對應于測量距離。一個大的頻率差應對于一個較大的測量距離。通過FFT頻率差被轉化為頻譜差，進而換算出測量距離。物位與測量距離的差別取決于空罐的高度。
發射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統發射并接收。
即使工況比較復雜的情況下，存在虛假回波，用醉新的微處理技術和調試軟件也可以準確的分析出物位的回波。輸入天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路:
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知，則物位L為:
L=E-D
輸出
通過輸入空罐高度E(=零點)，滿罐高度F(=滿量程)及一些應用參數來設定，應用參數將
自動使儀表適應測量環境。
對應于4-20mA輸出。
雷達物位計的注意事項：
測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。
若介質為低介電常數當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C的位置。
理論上測量達到天線的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的至少100mm。
對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區上。
醉小測量范圍與天線有關。
隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。