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電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編
點(diǎn)擊次數(shù)：2312 發(fā)布時間：2010-11-26
電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編
第二版中國國標(biāo)出版社會 采標(biāo)IEC標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) *部分：總則
GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境更試驗(yàn) 術(shù)語
GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A 低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B 高溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca 恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db 交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb 設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka 鹽霧試驗(yàn)方法