金屬鍍層測厚儀thick8000參數規格

1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）； 
2.同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層；
3.分析含量：一般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）；
5.SDD探測器：分辨率低至135eV；
6.良好的微孔準直技術：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm；
7.樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭； 
8.準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合； 
9.儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；

13.X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um；天瑞儀器是專業的金屬涂層測厚儀廠家，

金屬鍍層測厚儀thick8000應用行業

1、 電子半導體行業接插件和觸點的厚度測量2、 印刷線路板行業功能鍍層厚度測量3、 貴金屬首飾手表行業鍍層厚度測量4、 五金電鍍行業各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：1、光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-20052、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-20053、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005測量標準1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量