霍爾效應(yīng)的測(cè)量是研究半導(dǎo)體性質(zhì)的重要實(shí)驗(yàn)方法。利用霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的聯(lián)合測(cè)量，可以用來(lái)確定半導(dǎo)體的導(dǎo)電類(lèi)型和 載流子濃度。通過(guò)測(cè)量霍爾系數(shù)與電導(dǎo)率隨溫度的變化，可以確定半導(dǎo)體的禁帶寬度、雜質(zhì)電離能及遷移率的溫度系數(shù)等基本參數(shù)。本儀器采用現(xiàn)代電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，對(duì)霍爾樣品在弱場(chǎng)條件下進(jìn)行變溫霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率的測(cè)量，來(lái)確定半導(dǎo)體材料的各種性質(zhì)。