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VSM測(cè)試的應(yīng)用及技術(shù)參數(shù)概述
點(diǎn)擊次數(shù)：1018 發(fā)布時(shí)間：2023-2-13
振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)最初是由弗尼爾（S.Foner）提出的。他對(duì)磁強(qiáng)計(jì)的結(jié)構(gòu)，各種探測(cè)線圈及其對(duì)靈敏度的影響都作了詳細(xì)的論述。經(jīng)過(guò)約半個(gè)世紀(jì)的發(fā)展，如今VSM已是磁性實(shí)驗(yàn)室中應(yīng)用范圍很寬的測(cè)試設(shè)備，自從鎖相放大技術(shù)開(kāi)始在VSM上得到應(yīng)用以來(lái)，使其靈敏度得到了極大范圍的提升，適用范圍也不斷得到拓展，除永磁材料以外，VSM適合于測(cè)試以下材料：亞鐵磁、反磁性材料、順磁材料和抗鐵磁材料；各向異性材料；磁記錄材料；磁-光學(xué)材料；稀土和過(guò)渡元素、非晶金屬、高導(dǎo)磁率材料、金屬蛋白等形式的鐵磁物質(zhì)。弱磁、順磁等樣品雖然可以用VSM測(cè)量，其靈敏度相比于大多數(shù)永磁體或磁記錄介質(zhì)而言是有所下降的。此外，VSM還適用于塊狀、粉末、薄片、單晶和液體等多種形狀和形態(tài)的材料，能夠在不同的環(huán)境下得到被測(cè)材料的多種磁特性，。可以直接從測(cè)試中得到的內(nèi)容包括：B-H曲線、M-H曲線、初始化磁化曲線，磁滯回線上的各參數(shù)，并能夠測(cè)量材料的各向磁特性（mx, my, mz） ，由于VSM探測(cè)線圈的信號(hào)未經(jīng)過(guò)積分就直接送到分析系統(tǒng)，不存在積分器漂移的情況，因此如果配備有有低溫罐或高溫爐，可原位測(cè)量磁性材料從液氮溫區(qū)至室溫或室溫至500℃溫區(qū)的磁性能隨溫度的變化曲線，可以以溫度為變量測(cè)量由過(guò)渡溫度和居里點(diǎn)決定的磁化函數(shù)。
技術(shù)指標(biāo)：
1、測(cè)量磁矩范圍(磁極間距30mm時(shí))：1*10-3emu—300emu(靈敏度：5×10-5emu)
2、相對(duì)精度(量程30emu時(shí))：優(yōu)于±1%
3、重復(fù)性(量程30emu時(shí))：優(yōu)于±1%
4、穩(wěn)定性(量程30emu時(shí))：連續(xù)4小時(shí)工作優(yōu)于1%
5、溫度范圍：室溫到500攝氏度以及室溫到液氮溫區(qū)
6、磁場(chǎng)強(qiáng)度：0—±3.8T之間
