等離子體分析飛行時間質譜儀（pp-tofms）是一款新型材料表征技術，用于超快速、元素組分的深度剖析。

此次網絡講座將通過諸多實例為您展示研發過程中pp-tofms從薄膜和器件的生長到加工中表現的分析潛力。

加入會議，你將：

• 熟識pp-tofms的基本特征（分析速度、靈敏度和分辨率）

• 了解pp-tofms和目前熟知的表面化學分析技術（如xps, sims, sem-edx, rbs）間的互補性

• 了解pp-tofms在快速表面&深度分析中的強大功能

誰需要參加？

• 從事材料研究的學術專家及研發工程師，如半導體、微電子、光電及光伏材料研究

• 計量管理人員及計量工程師；表面分析專家；xps、sims、aes用戶等

講師

agnès tempez, phd

pp-tofms產品，horiba scientific

yann mazel

計量工程師

emmanuel nolot, phd

計量師，cea-leti

時間

4月4日 星期二

10:00  am / 5:00 pm（歐洲夏令）

報名

點擊左下角“閱讀原文”報名直達（國外系統打開較慢，請耐心等待）：

https://events.r20.constantcontact.com/register/eventreg?oeidk=a07edumvafd61969351&oseq=&c=&ch=

• ：33-169747200

• ：live-sci.fr@horiba.com

horiba optical school

horiba一直致力于為用戶普及光譜基礎知識，其旗下的jobin yvon有著近200年的光學、光譜經驗，我們非常樂意與大家分享這些經驗，為此特創立 optical school（光譜學院）。無論是剛接觸光譜的學生，還是希望有所建樹的研究者，都能在這里找到適合的資料及課程。 

我們希望通過這種分享方式，使您對光學及光譜技術有更系統、全面的了解，不斷提高儀器使用水平，解決應用中的問題，進而提升科研水平，更好地探索未知世界。