儀器簡介：

SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀? 是 HORIBA Scientific 推出的納米粒子解析裝置，可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子，并能*解析納米粒子的物質結構。該儀器被廣泛應用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和 CMP 等的檢測。

高靈敏度、高精度的測量
*表征單一體系納米尺度粒子
*解析納米粒子的物質結構

SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀? 應用范圍 
● 陶瓷粒子　● 金屬納米粒子　● 碳黑　● 制藥　● 病毒　● 涂料
● 化妝品　　● 聚合物　　 　 ● 食品　● ＣＭＰ● 顏料、油墨

? 技術參數：

粒子直徑測定
● 超寬動態光散射測量范圍:　0.3nm～8000nm
●通過采用與NEDO國家項目共同開發的相關器，實現高性能化。
●在單一納米粒子光學系統中，采用更低雜散光90°檢測光學系統。
●雙光路系統（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。

Zeta電位測定
●通過安裝HORIBA自主研發的標準微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。

? 主要特點：

●超小體積設計
● 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。
●樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態下取樣和測定。
●HORIBA自主研發的微量電泳樣品池， 可以測定僅100μL的Zeta電位。
●廣泛應用于膠質粒子、 機能性納米粒子、 高分子、膠束、 核糖體、 納米囊等的測定。
●操作簡單，進樣、設定參數后，只要按開始按鈕即可得到測量結果。