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BISS小負(fù)載單軸測試系統(tǒng)為精密位移控制和負(fù)載測量提供應(yīng)用測試解決方案。通用設(shè)計(jì)密位移控制和負(fù)載測量提供應(yīng)用測試解決方案。通用設(shè)計(jì)能靈活測試材料，電子元件和組織工程應(yīng)用。緊湊的臺(tái)上結(jié)構(gòu)提供了靈活性和模塊化的測試配置，從而簡化了測試操作，并提供的測試能力。

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應(yīng)用：

∴金屬，塑料，復(fù)合材料，生物材料

∴微型樣品測試

∴緊張，壓縮和疲勞

∴組織工程

∴