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    微區掃描電化學工作站是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的，進行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。 普林斯頓VersaScan微區掃描電化學工作站是提供給電化學及材料測試以*空間分辨率的一個測試平臺。每個VersaSCAN都具有高分辨率，長工作距離的閉環定位系統并安裝于抗震光學平臺上。

    普林斯頓VersaScan微區掃描電化學工作站是提供給電化學及材料測試以*空間分辨率的一個測試平臺。每個VersaSCAN都具有高分辨率，長工作距離的閉環定位系統并安裝于抗震光學平臺上。不同的輔助選件都安裝于定位系統上，輔助選件包括，如電位計，壓電振動單元，或者激光傳感器，為不同掃描探針試驗，定位系統提供不同的功能。VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統整合在一起，由以太網來控制，保證小信號的測量。

    普林斯頓VersaScan微區掃描電化學工作站是一個模塊化配置的系統，可以實現如下現今所有微區掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區形貌測試：

    1. Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 掃描電化學顯微鏡

    2. Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 掃描振動電極測試

    3. Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開爾文探針測試

    4. Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區電化學阻抗測試

    5. Scanning Droplet Cell (SDC) 掃描電解液微滴測試

    6. Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式光學微區形貌測試

    以上普林斯頓維區電化學工作站每項技術使用不同的測量探針，且安裝位置與樣品非常接近，但是不接觸到樣品。隨著探針測試的進行，改變探針的空間位置。然后將所記錄的數據對探針位置作圖，針對不同技術，該圖可以呈現微區掃描電化學電流，阻抗，相對功函或者是表面形貌圖。

    微區掃描電化學是一個模塊化的系統，微區掃描電化學可實現當今所有微區掃描探針電化學技術以及激光非接觸式微區形貌測試：

    - 掃描電化學顯微鏡(SECM)

    - 掃描振動電極測試(SVET)

    - 掃描開爾文(Kelvin)探針測試(SKP)

    - 微區電化學阻抗測試(LEIS)

    - 掃描電解液微滴測試(SDS)

    - 非觸式微區形貌測試(OSP)

    微區掃描電化學利用納米級分辨率的快速，閉環x,y,z定位系統，并連同一個便捷的數據采集系統使用戶依據自己的實驗選擇配置。微區掃描電化學系統設計靈活且人體工程學設計方便確保池體，樣品和探針的進入。

    近年來，微區掃描電化學技術發展迅猛，在腐蝕和電沉積科學中的表面反映過程基礎研究，酶穩定性研究，生物大分子的電化學反應特性，化學傳感器，點蝕孔蝕，涂層完整性和均勻性，涂層下或逾金屬界面間的局部腐蝕，緩蝕劑性能等相關領域得到廣泛應用，微區掃描電化學倍受科技工作者的關注。