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微區掃描電化學工作站實驗開始前的準備工作
微區掃描電化學工作站實驗開始前，調整、檢查樣品的時間往往很長。如果可以在噪聲信號中增強數據信號并收集數據信號，可以大大減少時間投入，這樣的話，實驗就會變得更快、更簡略。本文介紹了四個即時有效的數據處理的方法，可以用于那些為了縮短實驗時間而進行的快速掃描獲得的實驗數據。本文演示的是一個不是特別水平的SKP樣品，設備沒有設置成提取有效數據的狀態，實驗結果很糟糕。處理后的數據顯示在掃描中心附近有一個小壓痕。為了進行比較，還做了進一步的檢查。
微區掃描電化學工作站具有更高規格和更多探針技術:
掃描電化學顯微系統（SECM）
交流掃描電化學顯微鏡系統（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統（ic-SECM）
微區電化學阻抗測試系統(LEIS)
掃描振動點擊測試系統（SVET）
電解液微滴掃描系統（SDS）
交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）
掃描開爾文探針測試系統（SKP）
非觸式微區形貌測試系統（OSP）
微區掃描電化學工作站是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的，進行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。