飛納掃描電鏡結合孔徑統計分析測量系統，能夠輕松生成并分析掃描電鏡（SEM）圖像。一體化孔徑統計分析測量系統能夠使用戶獲得孔徑的分布狀態、孔隙參數如孔徑尺寸和長寬比。全自動化的孔徑統計分析測量系統提供超越光學顯微鏡觀察水平的結果，帶來進一步的探索和創新。生成報告時，可以把柱狀圖和生成的圖像以選定的格式輸出。

孔徑統計分析測量系統使用戶更好地了解材料特性，可以提取出完整的孔徑詳細信息。孔徑統計分析測量系統拉開了孔徑測量軟件的大幕。在探究多孔結構對材料孔隙率和過濾工藝的影響時，這種分析尤其重要。

1）從飛納電鏡中直接獲取圖像

2）測量孔徑的屬性數據，如面積、長軸、短軸等

3）操作快捷方便，提高工作效率，使工作安排簡單化可預測
4）圖像采集自由化，數據可存儲在網絡和 U 盤，便于分享、交流和參閱
5）導出統計數據時，可同時導出清晰圖片