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UV754N紫外可見分光光度計-UV754N紫外可見分光光度計
- 發布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產 地：
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- 2025年2月6日
- 2025年8月6日
- 上海上海市
- UV754N紫外可見分光光度計
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【產品簡介】
品牌 : 上海精科/棱光牌
備注 : UV754N紫外可見分光光度計是一種能適應現代分析實驗室運用光譜分析法對物質進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應用于醫藥衛生、環境保護、食品工業、石油化工、生物化學、大專院校及質量控制等部門。
【詳細說明】
UV754N紫外可見分光光度計簡述：
UV754N紫外可見分光光度計是一種能適應現代分析實驗室運用光譜分析法對物質進行各種定性定量分析需要的低價格、高性能的分光光度計。廣泛應用于醫藥衛生、環境保護、食品工業、石油化工、生物化學、大專院校及質量控制等部門。
UV754N紫外可見分光光度計特點：
●采用良好的全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優點。
●一鍵實現自動調零和調滿度功能。
●嚴密的工藝及元件選擇，保證儀器測量系統的低漂移和低噪聲，使儀器具有超群的測量讀數重現性和穩定性。
●大屏幕字符型液晶顯示器。
●數據打印和時間打印。
●待定系數法和系數輸入法二種濃度線性回歸運算。
●*的自動消除比色皿誤差功能。
●配有高速熱敏打印機
●配合軟件UVWin7使用，拓展儀器的使用功能。
●UVWin7軟件包（另購）。
UV754N紫外可見分光光度計主要技術指標；
●波長范圍；200nm～1000nm
●波長zui大允許誤差：±2nm
●波長重復性：≤1nm
●透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
●透射比重復性：≤0.2%（T）
●光譜帶寬：4nm
●雜散光: 0.3%（T）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定）
●穩定性：暗電流漂移：≤0.2%（T）/3min 亮電流漂移：≤0.5（T）/3min