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UV762雙光束紫外可見分光光度計-UV762雙光束紫外可見分光光度計
- 發布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產 地：
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- 2025年2月6日
- 2025年8月6日
- 上海上海市
- UV762雙光束紫外可見分光光度計
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【產品簡介】
品牌 : 上海精科/棱光牌
備注 : UV762雙光束紫外可見分光光度計是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計，采用全新的光學系統、微機控制和處理數據、大屏LCD中文顯示菜單、光譜圖和分析測試數據。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能，是質量控制、技術鑒定和科研必須的基本設備。
【詳細說明】
UV762雙光束紫外可見分光光度計簡述：
UV762雙光束紫外可見分光光度計是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計，采用了全新的光學系統設計、微機控制和處理數據、大屏幕LCD中文窗口顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數據。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和精確度高；光譜數據處理功能強；采用中文人機對話、操作方便，產品外形美觀大方。
UV762雙光束紫外可見分光光度計廣泛用于藥品檢驗、生物化學、環境監測、商品檢驗、石油化工、黑色和有色冶金等領域，使質量控制、技術鑒定和科學研究所必須的基本設備。
UV762雙光束紫外可見分光光度計主要特點：
●全新的光學系統設計，使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能，雜散光和噪聲低，測光精確度和穩定可靠性高。
●*的氘燈和鎢燈安裝、光源自動切換及自動尋找*位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全。
●優良的軟件設計和編制，使儀器有較強的光譜數據處理功能：自動掃描測量光譜、多波長（1～3λ）測定、動力學測定、1～3次曲線擬合、1～4階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
●采用大屏幕中文窗口顯示，具有良好的人機對話界面。
UV762雙光束紫外可見分光光度計技術指標：
●波長范圍：200nm～1100nm
●波長zui大允許誤差：±0.5nm
●波長重復性：≤0.2nm
●透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）
●透射比重復性：0.2%（T）
●光譜帶寬：2nm
●基線平直度：±0.004A（200nm～1000nm）
●漂移：≤0.004A/h（500nm處，預熱2小時）
●雜散光：≤0.15%（T）（在220nm處, 以NaI測定）（在360nm處，以NaNO2測定）
其它：
●電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz