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SB8037高溫絕緣材料電阻率測試裝置可測量絕緣材料在50-200℃高溫下的下列電氣參數：
● 體積電阻（Rv）或體積電阻系數（ρv）
● 表面電阻（Rs）或表面電阻系數（Ps）
● 電容（C）或介電常數（ε）
● 介質損耗角正切（tgδ）
產品簡介
詳細介紹
絕緣材料高溫電阻率測試系統
| G SB8037高溫絕緣材料電阻率測試裝置可測量絕緣材料在50-200℃高溫下的下列電氣參數： ● 體積電阻（Rv）或體積電阻系數（ρv） ● 表面電阻（Rs）或表面電阻系數（Ps） ● 電容（C）或介電常數（ε） ● 介質損耗角正切（tgδ）  ● 電源電壓：220V ● 加熱功率：1kW ● 工作溫度：室溫~200℃ ● 電極溫度波動：≤±1℃ ● 測量端開路阻抗：＞1013Ω ● zui高測量電壓：2kV ● 電極發熱時間常數：＞5min ● 測量極直徑：50mm ● 保護環與測量極間隔：2mm ● 電極套數：3 |