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該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
性能指標：
波長范圍及峰值波長：
探頭：（光譜響應曲線）
λ：(320～400)nm；λP＝365nm
探頭：（光譜響應曲線）
λ：(375～475)nm；λP＝420nm
輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外帶外區雜光：小于0.02％
準確度：±10％
角度響應特性：，，二，光照度計標準
響應時間：1秒
環境溫度：(0~40)℃；
環境濕度：＜85％RH
尺 寸：180mm×80mm×36mm；
重 量：0.2kg
電 源：9V積層電池一只
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