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金屬鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀是將X射線照射在樣品上
通過從樣品上反射出來的第二次X射線強度來測量鍍層等金屬鍍層的厚度。
金屬鍍層厚度的測量方法有多種，其中X射線熒光法是無接觸無損測量
測量范圍廣，X射線法可測極薄單鍍層、雙鍍層、合金鍍層，且不受底材影響。
各種金屬或塑膠電子零件,五金工件,端子連接器等在加工后為
防止生銹，或者美觀，或功能 會對零件表面鍍銅鎳銀鋅錫及鋅鎳合金等電解鍍層
但由于工藝或技術問題，會出現有的地方鍍的厚一些，有的地方薄一些
這樣就會導致零件鍍層厚度需要一種測厚儀，這種儀器就是鍍層測厚儀
韓國先鋒XRF-2020鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度
測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料
型號規格
XRF-2020L型：測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg
XRF-2020鍍層測厚儀
檢測電子電鍍層厚度,儀器全自動臺面
自動雷射對焦,多點自動測量。
金屬鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀
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