Agilent  E4991A  射頻阻抗分析儀  1 MHz 至 3 GHz

基本精度

• 基本精度 +/-0.8%

掃描參數(shù)

• 頻率：1 MHz 至 3 GHz
• 振蕩器電平：高達(dá) 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
• DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA

更多特性

• Windows 風(fēng)格的用戶界面
• 內(nèi)置 VBA 編程功能
• 通過 LAN 接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸

多功能測量選件

• 介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002）
• 可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010）
• 溫度特性測量（選件 E4991A-007）

描述

E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強(qiáng)大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設(shè)計(jì)人員測量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能，幫助他們進(jìn)行研發(fā)工作。與反射測量技術(shù)不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于進(jìn)行低功耗元器件分析。內(nèi)置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。

材料評估

E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。

晶圓測量

借助E4991A-010 探針臺連接套件，您可輕松地地將 Agilent E4991A 連接到射頻探頭系統(tǒng)（由 Cascade Microtech 提供）上進(jìn)行晶圓測量。

溫度特性評估

溫度特性測試套件 E4991A-007 是一款為元器件和材料進(jìn)行溫度特性測量的新型解決方案。該選件可在 - 55°C 至 + 150°C 廣泛的溫度范圍內(nèi)提供高精度的溫度特性分析功能，以及強(qiáng)大的溫度漂移補(bǔ)償功能。

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陳丙州   
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