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FT-335四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計，符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、...

多功能四探針/四點探針測試儀 很流源輸出，可同時顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率；人體工程學設計...

金屬薄片低阻雙電四探針測試儀，是目前同行業中能測量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產企業、高等院校...

高溫四探針測試儀現貨，采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過良...

高溫四探針電阻測試儀，該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，...

金屬薄膜四探針電阻率測試儀可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻）...