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X-RAY膜厚測試儀器特點詳細介紹：
　　1.可測量0.01um-300um的鍍層。
　　2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測量。
　　3.除平板形外，還可測量圓形、棒形（細線）等各種形狀。
　　4.可制作非破壞性膜厚儀的標準板。
　　5.該電鍍膜厚檢測儀可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度。
　　6.可高精度測量其他方式不易測量的三層以上的鍍層。
　　7.可對測量數據進行統計處理，以及和逐級進行共同管理。
　　8.標準板校正值的計算和設定可自動進行，非常簡單。

X-RAY膜厚測試儀器的性能比：能夠有效并精確的測量合金屬成分，只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金層：例如 Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金層：例如 Ni上的AuCdCu合金。 
雙鍍層：例如 Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

X-RAY膜厚測試儀器產品指標：

測厚技術：X射線熒光測厚技術

測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層

測量下限：0.003um （汽車配件鍍層測厚儀 金屬電鍍光譜測厚儀 X-RAY膜厚測試儀器）

測量上限：30-50um（以材料元素判定）

測量層數：10層

測量用時：30-120秒

探測器類型：Si-PIN電制冷

探測器分辨率：149eV

高壓范圍：5-50Kv，50W

X光管參數：5-50Kv，50W，側窗類；

光管靶材：Mo靶；

濾光片：鍍層濾光片

CCD觀察：260萬像素

微移動范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

測試環境：非真空條件

數據通訊：USB2.0模式

準直器：Ø0.5mm

軟件方法：FlexFP-Mult

工作區：開放工作區 自定義

樣品腔：70*20mm

整機重量：38kg