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HALT試驗箱應力篩選
- 發布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產 地：
- 已獲點擊：
- 2025年4月7日
- 2025年9月30日
- 廣東深圳市
- 廣東東莞賽思檢測設備有限公司
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【產品簡介】
【詳細說明】
HALT試驗箱應力篩選 用途：
對不同電子構件，在實際使用環境中遭遇的溫度條件，改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(可控制斜率的溫度沖擊)。
HALT試驗箱應力篩選 特 點：
1.可執行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能
2.等均溫速率可設定范圍5℃～30℃/min(40℃/min)
3.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求
4.采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行
5.除霜周期三天除霜一次，每次只需1小時完成；
6.通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能
7.感測器放置測試區出（回）風口符合實驗有效性
8.機臺多處報警監測，配置無線遠程報警功能
溫度控制范圍：
TSR(斜率可控制) |
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30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗 | ||
28℃/min→ | LED汽車照明燈 | ||
25℃/min→ | PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應 | ||
24℃/min→ | 光纖連接頭 | ||
20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號 比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命 | ||
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17℃/min→ | MOTO | ||
15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、 汽車引擎蓋下環境) | ||
11℃/min→ | 無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | ||
10℃/min→ | 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試 | ||
5℃/min→ | 錫須溫度循環試驗 | ||
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技術規格：
型號 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
內箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
預冷、預熱范圍 | -00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃ | |||
應力沖擊范圍 | -10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃ | |||
時間設定范圍 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
分辨率 | 0.01℃/min | |||
溫度均勻度 | ±3.00℃以內（under℃3.00℃） | |||
溫度應力變化范圍（zui小/分鐘） | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
沖擊試驗溫度 | -65℃～+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃) | |||
三箱沖擊溫度范圍 | -55℃～+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃) | |||
