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當前位置：> 供求商機> X-Cite® XP750-光功率測量系統
X-Cite®光功率測量系統的*設計專門用于測量熒光顯微設備的光功率，具有的精準性和易用性。它以瓦特為單位顯示數據，不僅可用于實驗，還可以用于設備的安裝和故障排除。該系統包括X-Cite® XP750傳感器，外形小巧別致，專門設計用于顯微鏡載物臺。它具有多種功能，可以對 X-Cite® 照明器或其他任何落射熒光光源的輸出功率進行測量。
為了實現zui終的可重復性，X-Cite® XR2100會利用光導管輸入端口或物體平面上的X-Cite® XP750光功率計獲得的功率數據，來校準X-Cite® exacte照明器。
功能和優勢
功能 | 優勢 |
X-Cite® XP750 | |
小巧的顯微鏡載玻片尺寸 | 適合標準的顯微鏡壓片夾，更方便的直接從物鏡測光，無需移除或重新配置設備 |
兼容燈泡，激光和 LED 光源 | 不僅技術，還能適配多種顯微鏡，更經濟 |
探測面積高達 – 10mm | 同時適用低倍和高倍物鏡 |
無聚焦要求 | 快速精確測量 |
寬廣的波長和功率測量范圍 | 適合多樣化的用途和顯微鏡配置 |
根據NIST/NRC標準進行校對 | 測量結果準確，深受用戶信任 |
* NIST指美國國家標準技術研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美國）全國科學研究委員會（National Research Council）***建議每12個月對 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校準一次。Lumen Dynamics集團獲得更多信息。 | |
XP750規格
規格 | |
內含 | 物體平面功率傳感器，配備電纜和連接器，適用于X-Cite® XR2100設備 |
功率范圍 | 5µW-500mW |
測量分辨率 | 0.01µW-1mW |
誤差*** | ±6% |
響應時間 | 600ms（起始），3s（確保穩定顯示） |
校準 | 符合NRC** 標準 |
波長范圍 | 320nm-750nm |
燈管類型/光源兼容性 | X-Cite® exacte，X-Cite®120系列，汞/HBO，金屬鹵化物燈，氙燈，LED，激光 |
物鏡兼容性 | 4X-63X，空氣耦合，FOV直徑小于10mm |
顯示 | 通過X-Cite® XR2100顯示 |
波長選擇 | 使用X-Cite® XR2100的上/下按鈕或直接使用PC界面，以1nm為度量進行調節 |
數據容量 | 經X-Cite® XR2100 |
PC控制 | 查看/改變設置，確定波長，記錄多個物鏡的數據/濾光片/強度設置，下載/輸出存儲數據 |
指令協議 | 通過X-Cite® XR2100 |
電源 | |
重量 | 2.9oz (82g) |
尺寸（無蓋） | 3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm) |
世界認證 | 通過 X-Cite® XR2100 |
質保 | 一年 |
X-Cite®光功率測量系統包含的技術受下列保護：US#6,437,861; US#7,335,901 | |
*NIST指美國國家標準技術研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美國）全國科學研究委員會（National Research Council）***建議每12個月對 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校準一次。Lumen Dynamics集團獲得更多信息。 | |
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