四探針電阻率測定儀（方塊電阻測試儀、方阻測定儀）可根據不同材料的要求選擇測試探頭；碳化鎢探針探頭用于測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質材料的電阻率和方阻；鍍金銅合金探針探頭用于測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導體材料廠、高校和科研對導體、半導體材料導電性能的測量。

規格參數：

測量范圍

              電阻率：10µΩ?cm～200kΩ?cm

              方塊電阻：50µΩ/□～1MΩ/□

              模擬電阻：10µΩ～200kΩ

測量精度

              電阻率：4%

              方塊電阻：4%

              模擬電阻：0.1%

測量速度：10次/秒、5次/秒、2次/秒

觸發方式：內部、手動、外部

測量精度：0.5%

數據接口：RC 232C

環境溫度：0-45℃

相對濕度：≤95%RH