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高分辨二次離子質譜儀tof-sims是非常靈敏的表面分析手段，憑借質譜分析、二維成像分析、深度元素分析等功能，廣泛應用于醫(yī)學、細胞學、地質礦物學、半導體、微電子...

SurfaceSeer I是一款高靈敏度、高質量范圍、高分辨率的SIMS二次離子質譜儀（TOF-SIMS），可以用于絕緣、導電表面的成像分析與化學成分分析。Su...

Kore SurfaceSeer I是一款高靈敏度的TOF-SIMS飛行時間二次離子質譜儀，用于絕緣、導電表面的成像分析與化學成分分析。SurfaceSeer ...

Kore SurfaceSeer S在飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）系列中，是一款高性價比且經久耐用的產品。它是研究樣品表面化學成分的理想選擇，適用...