6
儀器簡介：
1. 適合做多層薄膜的深度分析。
2. 很好的、耐用的、普通目的的二次離子質譜儀。
3. 方便使用。
4. 樣品可以手動轉換，由于分析速度快所以每天可以分析一定數量的樣品。
5. 我們的系統可配置快速原子槍，使我們可以輕松處理絕緣的樣品。
6. 我們還可以做元素成像（就象化學地圖）和混合模式掃描，自動測量正、負和中性粒子。
7. 我們的系統是典型的超高真空工作臺，很容易滿足很多其它分析
當前位置：> 供求商機> SIMS Workstation-二次離子質譜儀
1. 適合做多層薄膜的深度分析。
2. 很好的、耐用的、普通目的的二次離子質譜儀。
3. 方便使用。
4. 樣品可以手動轉換，由于分析速度快所以每天可以分析一定數量的樣品。
5. 我們的系統可配置快速原子槍，使我們可以輕松處理絕緣的樣品。
6. 我們還可以做元素成像（就象化學地圖）和混合模式掃描，自動測量正、負和中性粒子。
7. 我們的系統是典型的超高真空工作臺，很容易滿足很多其它分析的使用。 結構緊湊，但不損失性能。真正的高性價比。
? 高靈敏度脈沖離子計數檢測器，7個數量級的動態范圍 ? SIMS 成像，分辨率在微米以下 ? 光柵控制，增強深度分析能力 ? 所有能量范圍內，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸 ? 差式泵3級過濾四極桿，質量數范圍至1000amu ? 靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器 ? Penning規和互鎖裝置可提供過壓保護 ? 通過RS232、RS485或Ethernet LAN，軟件 MASsoft控制
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。