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光學晶體: 非線性晶體

法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀也被稱為SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀，具有超高的相位采樣分辨率（160 x 128）和高感光靈敏度，可以準確的測量0.9-1.7 μm的波前數據并且可適用于低功率紅外光源測試。

法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀

SID4 SWIR HR波前分析儀，0.9-1.7 μm超高采樣分辨率

法國Phasics提供的SID4 SWIR HR紅外高分辨率波前分析儀集成了InGaAs探測器和Phasics特殊的知識產權技術——四波橫向剪切設計而成的。由于SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀的超高采樣分辨率（160 x 128 phase pixels）和高靈敏度，可以精確的測量900 nm到1.7 μm的波前數據。短波紅外波前傳感器SID4 SWIR HR是一種創新的設計方案，它的鏡頭可以應用于光通信，儀器檢測，軍事或夜視監測等領域。