LANGER EMV-Technik探測頭公司以其電磁兼容專有知識和測量技術展現出在組件和集成電路開發中的新視角和經濟高效的工作策略。
LANGER EMV-Technik探測頭
LANGER EMV-Technik是一家在電磁兼容領域（EMC）進行研究、開發、生產和培訓的德國企業。LANGER EMV-Technik的電磁干擾發射和抗干擾能力測量技術以及集成電路測試系統為開發全過程提供支持，在范圍內廣受歡迎。LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專有知識和測量技術展現出在組件和集成電路開發中的新視角和經濟高效的工作策略。LANGER EMV-Technik為近場測試設計的探頭，是電磁兼容工程師*的zui基本工具，用于在產品開發期間探測PCB的電磁場情況，近場探頭的優點：
多達19個各種形狀的探頭，可以完成幾乎所有的電磁場測試任務；
多種分辨率的探頭，實現從粗略定位到精細定位
低成本高性能；
頻率范圍覆蓋100kHz－3GHz；
適用于檢查機箱泄漏、PCB內部電磁場分布、電纜上的電磁場分布等；
使用簡單，攜帶方便。
近場探頭的用途：
主要應用于查找干擾源，判定干擾產生的原因。
可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強度。
可以檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器或者是顯示器位置
可以檢測PCB附近的磁場環境情況
產品范圍：LANGER EMV-Technik探測頭
德國LANGER EMV-Technik近場探頭、LANGER EMV-Technik近場探棒、LANGER EMV-Technik放大器、LANGER EMV-Technik測量儀、LANGER EMV-Technik、LANGER EMV-Technik場頻信號發生器、LANGER EMV-Technik脈沖發生器、LANGER EMV-Technik探測頭、LANGER EMV-Technik電路檢測器
主要型號：LANGER EMV-Technik探測頭
BD06B、BD01B、BD01E、BD11、MFA 01、XF 1、SX、MFA01、MFA02、SX1、XF1、XF、RF1、RF2、RF3、RF4-E、RF-E、LF1、LF、PA203、PA303、RFS、VM251
MFA 01微型近場探頭組簡介：
由于集成電路集成度以及時鐘速率的不斷提高，PCB上存在大量雜散場和雜散電流，并以磁場形式相互耦合，導致產生GHz級別的輻射騷擾。的CISPR 22標準要求測量到6GHz。由于PCB上大量安裝高密度SMD器件，只有使用高分辨率探頭，才能真正找出問題所在。
LANGER EMV-Technik公司推出的新一代手持式有源近場探頭（MFA 01），頻率范圍覆蓋1MHz到6GHz，分辨率可達200µm，用于PCB布線、元器件和IC引腳的細致的磁場測量，能對集成電路引腳或SMD器件進行選擇性的測量，使用MFA-R 0.2-6探頭能診斷高頻磁場問題，使用MFA-K 0.1-12探頭能確定高頻電流。所有微型磁場探頭都有內置的放大器，BT 706偏置器給放大器提供供電。偏置器的阻抗為50?，為微型磁場探頭提供穩定的供電（9V/100mA），BT 706帶有一個12V/70mA的電源。微型磁場探頭以及偏置器采用SMA連接器。
近場探頭組MFA 01包括：
H-場探頭MFA-R 0,2-6
H-場探頭MFA-R 0,2-75
H-場探頭MFA-K 0,1-12
偏置器BT 706
電源適配器
SMA-SMA電纜，長度1米
盒子(340 x 240 x 55) mm
主要技術指標：
| 頻率范圍 | 分辨率 | 結構 | 連接器 |
MFA-R 0,2-75 | 1MHz～1GHz | 300 µm | 雙水平環 | SMA |
MFA-R 0,2-6 | 100MHz～6GHz | 300 µm | 垂直環 | SMA |
MFA-K 0,1-12 | 100MHz～6GHz | 200 µm | 垂直環 | SMA |
偏置器BT 706 | 500kHz～6GHz | | | SMA |
SX系列近場探頭簡介：
SX系列近場探頭，用于測量電子模塊、元器件和IC引腳的高頻近場，頻率范圍可達10GHz。探頭內部不含預放，為無源探頭，可使用射頻電纜連接到預放或頻譜分析儀的50歐姆輸入端。
上海連航機電科技有限公司是國內專業的進口機電產品與技術集成服務商。公司專注于為中國工業企業供應進口備品備件，提供過程控制技術咨詢，工業自動化集成設計與改造，成套設備與技術引進等工業技術應用及產品供應服務。客戶廣泛分布于全國各大地區與行業，主要有：汽車制造、機械設備制造、電力、石化、采礦、鋼鐵、有色金屬、電氣儀表制造、食品飲料、橡膠制品、醫藥生產、造紙、紡織、印刷、水泥、玻璃、環境設備、*等。
