顯微鏡操控規格:
●   在探針臺右側有大搖桿，提起90度后，可以使顯微鏡快速傾仰抬起，方便在測試時更換物鏡鏡頭
●   顯微鏡后側有X/Y軸調節小搖輪，可調節顯微鏡在x-y方向的移動，移動范圍2"X2"，精度1μm
●   顯微鏡Z軸帶有調焦粗旋鈕和細旋鈕，粗旋鈕方便快速調焦,細旋鈕方便調焦，使顯微鏡在Z軸方向行程50.8mm，移動精度1μm
 
臺面規格:
●  探針臺臺面平整度：5μm
●  探針臺左側有搖杠可以控制臺面快速上下升降6mm。在探針臺加裝探針卡點測wafer時方便對die的重選擇
●  探針臺右上方有轉輪搖桿，搖動時可使臺面線性上下升降，升降范圍25mm，精度1μm。在探針臺加裝探針卡點測wafer時方便對die的復位
 
卡盤（載物臺，即圖中的chuck）規格:
●  6" 卡盤，卡盤平整度：5μm，采用真空吸附方式吸附，帶真空吸附孔，中心孔徑250μm-1mm（可根據客戶需求定制孔徑大小），zui小可以吸住尺寸為0.3mmX0.3mm，zui大能夠吸住尺寸為6"X6"
●  卡盤可360度旋轉，旋轉角度可微調，微調精度為0.1度，帶角度鎖定旋鈕
●  卡盤X，Y軸調節旋鈕可以控制卡盤做X-Y方向的移動，移動范圍為6"X6"，移動精度為1μm，為方便點測的穩定性，帶有鎖住功能。如果點測6"wafer的時候，可以保證6"wafer的每一點都能夠點測到

性能：
● 鍍金真空吸附卡盤: 對應可選4" ，6"，8"，12"產品
● 大旋鈕移動卡盤臺，X-Y方向行程：6"-6"
● 卡盤快速拉出裝置便于放置/拿去樣品
● 線性無回差調節
● 臺面快速升/降行程：6mm，精調升/降行程：25mm
● 樣品尺寸: 5x5mm ~ 4" 6", 8", 12"
● 卡盤平整度: 10um
● 卡盤旋轉角度：0~360°
● Chuck Theta: ±15?
● 大旋鈕滑臺X-Y方向精度: 1um
● 臺面上/下升降搖桿/旋鈕
● 顯微鏡傾仰裝置

附件：
● 顯微鏡傾仰裝置
● 射頻測試探頭/電纜
● 有源探頭
● 低電流/電容測試
● 高壓測試
● 激光修復
● CCD/數字相機，USB接口
● 探針卡/封裝/PCB板夾具
● 加熱裝置
● 防震桌
● 屏蔽箱
● 顯微鏡暗場/Normarski 檢測