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產品簡介
日本AND BM-200自動微量分析天平（內校）追求高精度計量：Z高精度可達2500萬分之一，采用無風電離器和導電涂層的防風玻璃，解決靜電產生的問題
詳細介紹
日本AND BM-200自動微量分析天平（內校）特點：
? zui小顯示精度1μg(BM-20/BM-22)
元素分析/煙塵分析/環境測定/生化相關實驗/微量分析測量
? 網格狀稱盤(BM-20/BM-22)
配置不容易受風影響的網格狀稱盤
? 橫向滑動門控操作
左手可控制右側門開啟，方便兩手同時完成門控與樣品放置動作
? 操作性良好的稱量室空間
稱量臺雙環設計，無需兩層防風罩，從而在確保高精度的同時提供了更大的稱量空間，滿足大樣 品的稱量要求。
? 兩種通信方式
標配RS-232C和USB接口，天平可同時連接：“電腦與打印機”、“電腦和數據記錄器”、“電腦和外部顯示器”兩種不同輸出設備。（另外還配備了外部開關接口） 
日本AND BM-200自動微量分析天平（內校）? 標配Windows測量軟件
? 強大數據存儲功能
可儲存達200組數據（100組帶時間日期的數據）或50組校準數據
? 內置自動校準砝碼，可一鍵校準
? GLP/GMP/GCP/ISO格式輸出
? 百分比功能
? 大型高清晰白色背光LCD顯示
產品規格
