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中科院上海微系統所定制JKZC-LRT400冷熱臺成功交付
中國科學院上海微系統與信息技術研究所是我國著名的技術學科綜合性研究所之一，前身是成立于1928年的國立中央研究院工程研究所。自建國以來，上海微系統所已獲得獎勵46項、部委省級獎勵340余項。為國民經濟發展、國家安全和社會進步做出了重大貢獻。
本次交付的產品為探針冷熱臺JKZC-LRT400，該冷熱臺在實驗中主要用于高阻材料在不同溫度變化下的電學測試。
現場交付圖
能提供從-190℃到600℃溫度范圍內的精準控制。
現場實驗測試變溫電阻測試數據（二）
測試樣品為高阻材料，實驗顯示隨溫度升高，材料電阻在高溫下驟降。在本次交付中，針對客戶需求，對配套軟件進行了定制。
包含兩種測試模式：
①RT測試：樣品電阻隨溫度變化；
②數據時間譜測試：到達設定溫度后，樣品電阻隨時間變化。
一|、冷熱臺主要技術參數：
溫度范圍-196到600°C(-196℃需選擇專用冷卻系統)
可達150°C/min加熱速率
多段溫度控制程序設定
在線溫度/時間曲線
全程溫度穩定性和精度0.1°C
16 mm X、Y方向移動距離
樣品區域φ22 mm
光孔直徑 2.0mm
氣密樣品室，可以控制樣品環境
超薄上蓋窗口 0.17 mm
可用于透射和反射光
內蓋可以增加溫度穩定性
樣品側面導入
物鏡最小工作距離4.5 mm
聚光鏡最小工作距離12.5 mm
計算機控制
冷卻劑直接冷卻加熱體
臺體尺寸- 160 x 80 x 24 mm
二、電阻主要技術參數：
電流分辨率達0.1fA(10-16A)
測量電阻高達10PΩ(1016Ω)
輸入阻抗>200TΩ
支持電壓測量達20V
獨立的電流和電壓測量
5.0寸電容式觸摸屏
6?位測量分辨率
內置電壓源：±1000V，分辨率：700μV
溫度和濕度測量
時域視圖，捕獲瞬態信號效應和選擇測量數據
支持數據記錄
配置專用屏蔽測試盒
接口：USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、RS232、HANDLER、INTERLOCK
主要測量應用
變溫條件下針對
應用
材料特征測試
半導體、納米材料、聚合物材料、介質材料、電化學材料、鐵電材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡膠、薄膜、金屬、有機材料等
電子元器件泄漏電流和絕緣電阻測試
電容器、電阻器、二極管、晶體管、傳感器、TFT和CNT等類型、光電器件、納米器件、太陽能電池、開關、繼電器等
電子/非電子系統
離子束、電子束、傳感系統、粒子測量、嵌入式精密儀器等
半導體和其它器件I-V特性測量
體電阻/表面電阻率測量
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