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掃描電鏡SEM掃描電子顯微鏡JSM-it100（A）
閱讀：9309 發(fā)布時間：2016-9-1掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)主要特長
標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡
標準配置EDS分析功能的JSM-IT100A，不僅能獲取高分辨率的圖像，還采用了無需液氮制冷的EDS檢測器 (DRY SD)，能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外，搭載的大型全對中形樣品臺可以對應各種樣品。
電子光學系統(tǒng)
JSM-IT100A是日本電子株式會社推出機型，沿襲日本電子的電子光學系統(tǒng)，集合了分析掃描電鏡精髓功能，設計精簡自動化程度高。
使用多點觸摸屏，操作舒適
JSM-IT100A通過多點觸控技術和的操作軟件，操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能，舒適便捷。新開發(fā)的操作界面簡明易懂，即使是SEM新手也能輕松獲得高品質的SEM圖像，進行EDS元素分析。
主要參數:
放大倍數: ×5~×300,000
探測器:二次電子探測器/半導體背散射電子探測器
加速電壓:0.5KV ~ 20KV
zui大樣品尺寸:直徑150mm高度為48mm的樣品
探測器:電制冷方式BOX-SDD探測器 -無需使用液氮
標準搭載功能:
Qualitative Analysis 定性分析
Quantitative Analysis 定量分析
Active Mapping 活區(qū)面分析
Point Analysis 點分析
Probe Tracking 束流追蹤