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                        JEOL JEM-2800 高通量場發射透射電子顯微鏡

放大倍數：zui高2，000,000                     加速電壓：200KF

分辨率：0.21nm(點分辨率)                     儀器種類：場發射

JEM-2800是日本電子透射電子顯微鏡系列中的一款特殊設計的產品，在兼顧高分辨高穩定性的同時，zui求分析效率的zui大化和操作的自動化。顛覆傳統的電鏡外觀設計，除了讓人耳目一新外，還對設置環境更具抗干擾能力。

    主要技術指標：

  1.  點分辨率：0.21nm；

  2.  晶格分辨率：0.1nm;

  3.  STEM 分辨率：0.16nm；

  4.  二次電子分辨率：0.5nm；

  5.  能譜：可以安裝兩個超級能譜

  6. 洛倫茲模式：標配