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產品簡介
安捷倫（2手）ICP-MS光譜：可即刻運行的 Agilent 7500 ICP-MS 結合穩定的硬件配置、自動優化工具與預設方法簡化常規分析。硬件具有高基體耐受能力、寬動態范圍并能對多原子干擾進行有效控制，可消除復雜多變的樣品基體帶來的不確定性。7500 ICP-MS 極易設置和使用，因此您可以快速獲得多種樣品類型的可靠結果。
詳細介紹
安捷倫（2手）ICP-MS光譜產品特性：
● 快速提高常規金屬分析效率 — ICP-MS MassHunter 軟件包含預定義設置的可簡便加載和運行的預設方法，預定義設置涉及從等離子體條件到分析物積分時間及內標。對于新方法，方法向導將根據樣品類型和應用建立方法。了解關于飲用水、環境廢棄物和制藥產品解決方案中元素雜質的更多信息。
● 減少樣品前處理 — 7500 ICP-MS 標配*的耐高鹽進樣 (HMI) 技術，無需稀釋即可分析總溶解固體 (TDS) 含量高達 3% 的樣品，減少了樣品前處理并節省了時間。
● 大限度減小信號抑制 — HMI 能減少信號抑制，因此可以準確測定高基體樣品而無需標樣的基體匹配。
● 有效去除干擾，確保數據準確性 — 氦氣 (He) 碰撞模式可在同一套質譜條件下去除所有多原子離子干擾，簡化了方法開發與日常操作。He 模式無需基體特異性或分析物特異性反應池條件。
● 在一次運行中同時分析常量和痕量元素 — 寬動態范圍正交檢測器系統 (ODS) 可在一次運行中實現常量元素（數百或數千 ppm）與痕量元素（ppt 或亞 ppt 級）的直接分析。較高的上限濃度可減少由超量程結果造成的樣品再運行。
● 提高通量和分析效率 — 可選的集成式進樣系統 (ISIS 3) 和 SPS 4 自動進樣器可在不影響數據質量的前提下降低每個樣品的分析成本。
安捷倫（2手）ICP-MS光譜主要參數
1. 敏度：
低質量數 Li(7): 3 50 Mcps/ppm；
中質量數 Y(89): 3 160 Mcps/ppm（7700x)； 240 Mcps/ppm(7700s) ；
高質量數 Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x)； 120 Mcps/ppm(7700s)；
根據用戶特 需求，可提供 敏度功能
2. 檢測限：
低質量數 Be(9): ￡ 0.5 ppt；
中質量數 In(115): ￡ 0.1 ppt
高質量數 Bi(209): ￡ 0.1 ppt
3. 氧化物干擾: CeO+/Ce+:￡ 1.5 %(7700x)； 3.0 %(7700s)；
4. 雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:￡ 3.0 %
5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ￡0.1
6. 質譜范圍：2 - 260 amu；
7 豐度 敏度 ：
低質量端: ￡ 5 x 10-7
高質量端: ￡ 1 x 10-7