您好, 歡迎來到化工儀器網
您有多了解X射線熒光分析儀
閱讀：694 發布時間：2019-1-7
X射線熒光分析儀適合不同使用者的，針對不同使用者準備了兩種操作模式。對于分析初學者秩序選擇條件即可進行測量。無需進行各種設定。對于專業分析人員可根據實際樣品，自由設定測量和檢測器的條件，從而發揮驚人的靈敏度和再現性。
在測定微量成分時，由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
為了滿足現代企業管理和生產要求，必須對生產過程中的原材料的化學成分進行及時、準確的分析和控制，傳統的化學分析方法已經不能*生產過程的需要。目前眾多新型冶煉企業為了達到良好的質量控制指標，大都配備了相應的分析儀。由于化學分析方法分析速度的限制，實際上，采用化學分析方法對于生產過程來說只有事后監測的意義，而沒有控制意義，往往是當我們發現某個控制環節有問題時，已經造成了嚴重的后果，給工廠帶來了很大的損失。
X射線熒光分析儀原理：XRF分析是由X射線管發出的一次X射線，當施加給X射線管的電壓達到某一高度值，X射線管發射的一次X射線的能量足以激發樣品所含元素原子的內層電子，被逐出的電子為光電子，同時軌道上形成空穴，原子處于不穩定狀態。此時，外層高能級的電子自發向內層躍遷*空位，使原子恢復到穩定的低能態，同時輻射出具有該元素特征的二次X射線，也就是特征熒光X射線。