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篤摯儀器（上海）有限公司
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一、優異精度：微米級誤差精準捕捉在精密制造領域，精度是衡量產品品質的關鍵標尺。標準款產品以0.5ppm（0.5μm/m）的檢測精度，精準契合汽車零部件、航空航天等高精尖制造需求，為復雜構件的尺寸把控筑牢品質根基。而XDLaser系列精密型產品更是實現技術突破，將精度提升至0.2ppm（0.2μm/m），成功跨越微米級界限，邁入納米級誤差檢測領域。這一技術革新，使其成為半導體芯片光刻、光學鏡片超精密研磨等端工藝的理想伙伴，助力企業制造精度穩居行業前沿。二、高效測量：六維參數同步解析效率是現代工業生
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DMP®儀器家族的SR-SCOPE®DMP®30專為測量印刷電路板頂部單位厚度的COP而開發。它非常適合在生產過程、進貨或出貨中可靠地抽查銅厚度。這款堅固耐用的手持式設備采用符合DINEN14571標準的4點電阻法，非常適合測量多層板或層壓板上薄銅層的厚度。電路板的其他層或PCB中的中間層，例如更深的絕緣銅層，對測量沒有影響，因此即使使用薄層壓板，也可以精確確定銅層厚度。SR-SCOPE®允許在0.5-10μm或5-120μm之間的不同涂層厚度測量范圍內進行測量。堅固外殼：采用堅固的鋁制外殼，防
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功能用途：DMP系列是接觸式和非破壞性涂鍍層厚度測量儀器，適用于磁性和非磁性金屬基材上的非磁性或非導電涂鍍層測量，可用于測量鐵基材和有色金屬基材上的涂層厚度，如汽車零部件、飛機零部件、建筑鋼材等表面涂層檢測123。型號分類：該系列包括入門級型號DMP10和DMP20，以及專業級型號DMP30和DMP40測量原理與精準度67DELTASCOPE：采用磁感應檢測法，用于測量磁性基材上的非磁性涂鍍層，如鋼或鐵上的鋅、鉻、銅涂層等，能精確測量非磁性涂鍍層在鐵基材上的厚度。ISOSCOPE：運用電渦流檢測
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菲希爾測厚儀MP0多種測量方法：采用磁感應及電渦流方法，自動識別基材，如鐵或鋁等，可快速無損地測量涂鍍層厚度。廣泛測量范圍：測量范圍為0-2000μm（鐵磁性基材）和0-2000μm（非鐵磁性基材），能滿足多種涂鍍層厚度的測量需求。高精度測量：測量精度高，誤差范圍為±1.5μm（0-75μm）、≤2%（75-1000μm）、≤3%（1000-2000μm）；電渦流法下≤0.5μm（0-100μm），≤0.5%（100-2000μm），重復精度≤0.25μm（0-50μm）、≤0.5%（50-20
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電導率作為關鍵的材料屬性參數，不僅能夠直觀反映金屬傳導電流的能力，更能為研究材料成分、微觀結構及機械性能提供重要參考依據。SIGMASCOPESMP350菲希爾電導率儀憑借其高效、精準的特性，為電導率測量工作帶來了全新解決方案。該儀器配套的ES40測量探頭具備靈活的工作模式，支持60kHz、120kHz、240kHz和480kHz四種測量頻率，可適配多樣化的測量場景需求。在測量原理上，SIGMASCOPESMP350嚴格遵循渦流相位法，符合DINEN2004-1和ASTME1004標準。這種先進
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菲希爾多功能測厚儀FISCHERSCOPE MMS PC2信息
靈活的多功能桌上型裝置作為多功能測量系統，FISCHERSCOPEMMSPC2菲希爾臺式測厚儀無需使用多個專用設備，同時簡化您的品質管理流程，從而節省您的時間和金錢。模塊化設計允許系統的客制化和擴展：多種測量方法，六合一設備，使其適用于廣泛的應用，并且可以手動和自動使用。一臺儀器，多種可能支持不同的涂層厚度、電導率和鐵素體含量測試方法易于使用簡單的設備操作和圖形化支持的用戶指導可個性配置適應您所在行業的應用需求貼合手動或半自動測量；系統適應您的測量和測試要求市場上支持同時使用多達八個探頭進行評估 -
FERITSCOPEDMP30菲希爾鐵素體儀應用奧氏體鋼和雙相鋼中鐵素體含量的測定奧氏體材料中變形馬氏體比例的測定檢測拋光表面的焊縫沿焊縫檢測鐵素體含量分布FERITSCOPEDMP30菲希爾鐵素體儀堅固耐用的手持設備的優勢在化工廠、發電廠和加工廠中明顯，在這些地方，奧氏體鋼和雙相鋼需要承受高溫、腐蝕性介質和高壓。憑借其現代設計和直觀的TactileSuite軟件，該儀器提供了功能。Fischer的各種探頭為您提供充分的靈活性，即使位置難以接近，您也可以輕松測量鐵素體含量。只需將探頭放在表面上-
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德國菲希爾SR-SCOPEDMP30PCB板銅厚測量儀是一款專為測量印刷電路板（PCB）銅層厚度而設計的高性能手持設備。它采用先進的微電阻率法，能夠快速、準確地測量銅層厚度，且不受底層材料的影響菲希爾SR-SCOPEDMP30電路板測厚儀菲希爾測厚儀SR-SCOPEDMP30產品特點堅固耐用：采用全鋁外殼，防護等級達到IP64，能夠適應各種復雜的工業環境。高效測量：支持0.5-10微米和5-120微米的測量范圍，滿足不同厚度的銅層測量需求。智能反饋：通過燈光、聲音和振動反饋，實時監測測量值是否在
