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技術文章

菲希爾鍍層測厚儀FISCHER XDL230產品簡介

閱讀:275          發布時間:2025-5-7

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230比例接收器能實現計數率

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230由于采用了FISCHER基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

通用規格
設計用途能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(EDXPF),用于測定鍍層和溶液分析。
元素范圍從元素氯(17)到鈾(92)
配有可選的WinFTM®BASIC軟件時,可同時測定24種元素
設計理念臺式儀器,測量門向上開啟
測量方向由上往下
X射線源
X射線管帶鈹窗口的鎢管
高壓三檔:30KV,40KV,50KV
孔徑(準直器)φ0.3mm 可選:φ0.1mm;φ0.2mm;長方形0.3mm x 0.05mm
測量點尺寸取決于測量距離及使用的準直器大小
實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致
小的測量點大小約φ0.2mm


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