儀思奇科技攜多款新產(chǎn)品亮相IPB2018

閱讀：4148發(fā)布時間：2018-10-24

第十六屆中國粉體加工/散料輸送展覽會（IPB2018）作為粉體行業(yè)的重要的年度盛會于2018年10月17日在上海世博展覽館盛大開幕。儀思奇科技攜多款新產(chǎn)品亮相此次展會。此次參展的主要產(chǎn)品主要有新一代高分辨率圖像法粒度粒形分析儀IPAC2；圖像法顆粒跟蹤zeta電位分析儀ZetaCompact^®；固體表面電位儀ZetaCAD^®和超聲法粒度和zeta電位分析儀。

儀思奇科技一直孜孜以求于把的顆粒分析技術(shù)引入國內(nèi)市場，讓新老客戶了解到的圖像粒度分析技術(shù)水平和豐富的多種zeta電位解決方案。

在此次展會上，儀思奇科技展出了分辨率可達到0.17微米/像素的圖像法粒度粒形分析儀IPAC2。IPAC2圖像法粒度和粒形分析儀屬于濕法動態(tài)分析儀器，其分析范圍粒度范圍：0.3~1000μm，具有1200萬像素CMOS成像系統(tǒng)，可配置自動進樣系統(tǒng)。IPAC2可以確定蛋白質(zhì)藥物中污染物來源及聚集體個數(shù),符合藥典要求；可對蛋白質(zhì)中氣泡、硅油、異物等進行分類和數(shù)量統(tǒng)計，并可用于拋光液中的顆粒計數(shù)。

OCCHIO公司的ghost技術(shù)，可以對透明顆粒進行成像；強大的軟件系統(tǒng)，使得IPAC2具有跟蹤和計數(shù)功能。IPAC2是解決蛋白質(zhì)、乳液等樣品粒度粒形分析的利器。

在此次展會上同時展出了圖像法zeta電位儀zetaCompact^®和固體表面zeta電位儀ZetaCAD^®。

圖像法zeta電位分析是用于光散射電泳法和電聲法zeta電位分析校準的基準儀器，可用于解決測量從20nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問題，并計算膠體懸浮液的zeta電位。*，密度高或粒徑大的顆粒會沉積在測量室底部。圖像法zeta電位儀zetaCompact^®采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布，計算zeta值。并且能給出每個顆粒的zeta值，給出真正的zeta電位分布圖（如下圖），特別適合于乳液、纖維、混合材料、礦漿等樣品的測定和分離條件確定。

固體表面電位分析儀ZetaCAD^®是基于流動電勢和流動電流測量法，從而研究宏觀固體表面 Zeta電位。ZetaCAD^®適用于50μm以上的大顆粒、纖維和膜類等平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等，對不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。固體表面電位分析儀研究材料的表面電荷，了解材料表面上的電荷狀況，幫助科研人員在化學與材料科學領域內(nèi)改善和調(diào)整表面特性。

在IPB同期舉行的2018第三屆上海醫(yī)藥粉體制備技術(shù)交流會，邀請了國內(nèi)藥用粉體顆粒領域的專家開展高峰論壇，儀思奇科技總經(jīng)理楊正紅先生應邀做《靜態(tài)圖像法粒度和形貌分析技術(shù)在藥品質(zhì)量控制中的應用》主題報告。通過此次論壇，儀器廠商交流學習，廣大用戶互助探討，進一步加深了對藥用粉體顆粒領域顆粒表征技術(shù)的理解。