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高頻光電導少子壽命測試儀 少子壽命測試儀 型號： LT-1
用途
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。

高頻光電導少子壽命測試儀 少子壽命測試儀 型號： LT-1

1、 用途

用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。

2、 設備組成

2.1、光脈沖發(fā)生裝置

重復頻率＞25次/s      脈寬＞60μｓ          光脈沖關斷時間＜0.2-1μｓ

紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶）   脈沖電流：5A～20A

如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
2.2、高頻源

頻率：30MHz       低輸出阻抗      輸出功率＞1W

2.3、放大器和檢波器

頻率響應：2Hz～2MHz

2.4、配用示波器

配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續(xù)可調(diào)。

3、測量范圍

 LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ